EM’2020

17th International Conference on Electron Microscopy (EM’2020) współorganizowana przez Politechnikę Śląską i Polskie Towarzystwo Mikroskopii odbędzie się w dniach 14-17 czerwca 2020 r. w Wiśle. Konferencja stworzy możliwość przedyskutowania najnowszych metod i technik mikroskopii elektronowej w gronie badaczy zajmujących się mikroskopią, krystalografią, inżynierią materiałową i fizyką ciała stałego. Zakres tematyczny konferencji obejmuje szeroki przegląd najnowszych osiągnięć mikroskopii elektronowej w obszarach aparatury, metod i ich zastosowań w badaniach materiałów. W programie konferencji zaplanowano wykłady plenarne, referaty i sesję posterową, które umożliwią zaprezentowanie wyników badań podstawowych i stosowanych, jak również prac teoretycznych i związanych z udoskonaleniem aparatury.

Tematyka konferencji:

• Preparatyka próbek
• Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM)
• Unowocześnienia w SEM i FIB
• Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM)
• HRTEM i nowe techniki
• Metody in situ w mikroskopii
• Dyfrakcja elektronów i krystalografia
• Sesja młodych naukowców
• Inne
Członkom PTMi i EMS przysługuje zniżka w opłacie konferencyjnej.
Szczegółowe informacje na temat konferencji są dostępne na stronie https://www.stereology.pl/em-2020

Please follow and like us: