W dniu 30 listopada 2020 r. w trybie zdalnym odbył się Nadzwyczajny Walny Zjazd Polskiego Towarzystwa Mikroskopii. Podczas Zjazdu w głosowaniu jawnym jednomyślnie przyjęto uchwałę o nadaniu godności członka honorowego PTMi Panu Profesorowi Janowi Kusińskiemu w uznaniu wyjątkowych zasług dla rozwoju mikroskopii elektronowej w Polsce oraz wielkiego zaangażowania i cennego wkładu pracy w realizację celów Polskiego Towarzystwa Mikroskopii .
Serdecznie gratulujemy!
7 grudnia 2020 r. odbędzie się Stanford Electron Microscopy-X Symposium. Wykładowcami będą Dr. Richard Henderson (2017 zdobywca nagrody Nobla w dziedzinie chemii w 2017 ) i Prof. Frances Ross z MIT.
Link do rejestracji:
https://emx.stanford.edu/symposium-registration
Zapraszamy do głosowania w konkursie na najlepszy obraz mikroskopowy.
Autorzy obrazów są uczestnikami konferencji EM’2020 https://www.stereology.pl/em-2020.
Ogłoszono zwycięzców nagród Europejskiego Towarzystwa Mikroskopii za najwybitniejsze osiągnięcia z dziedzin: fizyka/nauki o materiałach i nauki o zyciu.
Zwycięzcami zostali:
Dr Sara BALS – fizyka/nauki o materiałach
Dr Emmanuel BEAUREPAIRE – nauki o życiu
Szczegółowe informacje o ich osiągnięciach na stronie EMS
Z powodu pandemii koronawirusa termin konferencji EM’2020 został przeniesiony na 29.11-2.12.2020. Więcej informacji związanych ze zmianą terminu można uzyskać na stronie konferencji
https://www.stereology.pl/em-2020
European Microscopy Congress EMC2020 nie odbędzie się w dniach 23-28.08.2020 w Kopenhadze.
W związku z ograniczeniami wprowadzonymi z powodu COVID-19 Organizatorzy kongresu EMC2020 ogłosili, że kongres nie może się odbyć w planowanym miejscu i czasie. Ogłoszenie jest dostępne na stronie https://www.emc2020.eu/
Polskie Towarzystwo Mikroskopii ogłasza rozstrzygnięcie konkursu na najlepsze prace zgłoszone przez doktorantów do programu konferencji EM’2020. Przyznano nagrodę za pierwsze miejsce oraz trzy nagrody za równorzędne drugie miejsca.
Nagrodzono następujące prace:
• pierwsze miejsce (pokrycie kosztów opłaty konferencyjnej)
– Sylwia Wójcik “Microscopic insight into the atomic-level promotion of Co3O4 catalyst for N2O decomposition”, Uniwersytet Jagielloński, Wydział Chemii
• drugie miejsce (pokrycie kosztów połowy opłaty konferencyjnej)
– Krzysztof Matus „Characterization of nanoprecipitates formed in the 18Ni300 maraging steel”, Politechnika Śląska, Wydział Mechaniczny Technologiczny
– Dorota Janaszko „The structure and oxidation mechanism of Pb1-xSnxTe nanowires grown by MBE method”, Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk
– Martyna Strąg „Advanced electron microscopy methods applied for microstructural characterization of calcitic prismatic layer forming bivalves shells”, Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk
Serdecznie gratulujemy!
Polskie Towarzystwo Mikroskopii ogłasza konkurs na najlepsze prace zgłoszone przez doktorantów do programu konferencji EM’2020. Aby wziąć udział w konkursie należy przesłać abstrakt poprzez stronę internetową konferencji (https://www.stereology.pl/em-2020/registration-form-em) oraz e-mailem do sekretarza PTMi (na adres: bdubiel@agh.edu.pl) z dopiskiem „Konkurs dla doktorantów” w terminie do 15 lutego 2020 r.
Nadesłane abstrakty będą oceniane pod względem jakości i oryginalności naukowej. Główną nagrodą w konkursie jest zwolnienie z opłaty za udział w konferencji EM’2020, natomiast laureaci II i III miejsca otrzymają zwolnienie z połowy opłaty konferencyjnej.
17th International Conference on Electron Microscopy (EM’2020) współorganizowana przez Politechnikę Śląską i Polskie Towarzystwo Mikroskopii odbędzie się w dniach 14-17 czerwca 2020 r. w Wiśle. Konferencja stworzy możliwość przedyskutowania najnowszych metod i technik mikroskopii elektronowej w gronie badaczy zajmujących się mikroskopią, krystalografią, inżynierią materiałową i fizyką ciała stałego. Zakres tematyczny konferencji obejmuje szeroki przegląd najnowszych osiągnięć mikroskopii elektronowej w obszarach aparatury, metod i ich zastosowań w badaniach materiałów. W programie konferencji zaplanowano wykłady plenarne, referaty i sesję posterową, które umożliwią zaprezentowanie wyników badań podstawowych i stosowanych, jak również prac teoretycznych i związanych z udoskonaleniem aparatury.
Tematyka konferencji:
• Preparatyka próbek
• Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM)
• Unowocześnienia w SEM i FIB
• Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM)
• HRTEM i nowe techniki
• Metody in situ w mikroskopii
• Dyfrakcja elektronów i krystalografia
• Sesja młodych naukowców
• Inne
Członkom PTMi i EMS przysługuje zniżka w opłacie konferencyjnej.
Szczegółowe informacje na temat konferencji są dostępne na stronie https://www.stereology.pl/em-2020
